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高溫老化房返回

高溫老化測試的標準通常由三個因素組成:環境溫度、溫度升降速率和老化時間。

環境溫度指的是測試環境中測試元器件的溫度,一般范圍在-40℃~125℃,具體

溫度可以根據測試元器件的特性進行調整;溫度升降速率指的是測試元器件從室

溫到測試溫度時的升溫或降溫速率,一般范圍在3℃/min~5℃/min,如果采用更



高溫老化房
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快的溫度升降速率,會使測試元器件的熱損傷加劇;老化時間指的是測試元器件

在高溫環境下的持續時間,一般范圍在24h~168h,也可以根據測試元器件的特性進行調整。

此外,在高溫老化測試中,還需要注意環境濕度,一般范圍在20%~80%,減少

濕度可以降低測試元器件在高溫環境下的損傷;還需要注意測試元器件是否組裝在PCB,

組裝在PCB上的元器件會受到PCB的散熱影響,因此在測試時應該考慮元器件的散熱效果。


以上就是高溫老化測試的標準,它的主要內容有:環境溫度、溫度升降速率和老化時間;

此外,還需要考慮環境濕度和測試元器件的散熱效果。在實際應用中,可以根據不同測

試元器件的特性進行調整,以獲得更好的測試效果。



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